測(cè)試點(diǎn)
LTEST08、LTEST29、LTEST31、LTEST32、LTEST33、LTEST34、LTEST35?Test Pin
測(cè)試點(diǎn),焊于電子、計(jì)算機(jī)電路板上重要測(cè)試端點(diǎn),可勾掛探棒不虞短路,鍍金接觸良好,不氧化。
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測(cè)試點(diǎn),焊于電子、計(jì)算機(jī)電路板上重要測(cè)試端點(diǎn),可勾掛探棒不虞短路,鍍金接觸良好,不氧化。